扫描探针显微镜(SPM/AFM/STM)
材料特性表征
表面沉积、微纳米加工、制备
光电类
半导体相关
生化类
其它
产品名称：
E-SWEEP 新一代可控环境扫描探针显微镜
产品信息：
产品名称：
电子束光刻系统（E-Beam Lithography）
产品信息：
产品名称：
原子层沉积系统（ALD）
产品信息：
产品名称：
金属有机化学气相沉积系统(MOCVD)
产品信息：
产品名称：
圆二色光谱仪
产品信息：
产品名称：
TF-2000铁电综合测试系统
产品信息：
第六届中国功能材料及其应用学术会议
2007年上海先进材料机械测试技术研讨会
第五届表面工程国际会议(ICSE2007)
先进材料机械测试技术学术研讨会
用于高温超导带制备的脉冲激光沉积（PLD）系统
SMI公司应用于铁电氧化物薄膜的MOCVD系统
精工SPM 2006 用户交流会
西安交通大学购买Crestec公司电子束光刻设备
CSM Instruments Workshop 2006
2006北京国际材料工业展览会（MatCom 2006）
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